Proposed subjects:
1. Structural analysis of materials by X-ray diffractometry.
2. Semiconductor thin films. Preparation techniques and characteristics.
3. Methods for determining thin-film thickness.
4. General characteristics of the Earth’s atmosphere. Atmospheric stability.
5. Atmospheric radiative models.
Bibliografie
1. Peter M. Martin, Handbook of Deposition Technologies for Films and Coatings, Third Edition: Science, Applications and Technology, Elsevier, Amsterdam-Boston, 2010.
2. Nicolae Sulițanu, Fizica Suprafeței Solide, Ed. Univ. ”Al. I. Cuza”, Iași, 1997.
3. I. D .Bursuc, N. Sulițanu, Solidul, Fenomene, teorii, aplicații, Ed. Șt. București, 1991.
4. I. Dima, I. Munteanu, Materiale și dispozitive semiconductore, Ed. Did. Ped. București, 1980.
5. I. Spînulescu, Fizica straturilor subţiri şi aplicaţiile acestora, Ed. Şt., Bucureşti, 1975.
6. I. Pop, V. Nicolescu, Structura corpului solid. Metode fizice de studiu, Ed. Acad. R. S. R., București, 1971.
7. L. Leontie, Fizica atmosferei, Ed. Politehnium, Iaşi, 2004.
8. L. Leontie, Introducere în fizica atmosferei (partea I)”, Ed. Gh. Asachi, Iaşi, 2002.